元素范圍從S到U
檢測(cè)限1ppm
分辨率160ev
重復(fù)性0.1
分析時(shí)間30s到200s
環(huán)境溫度15-30度
電源電壓220v
整機(jī)功率500w
天瑞儀器edx1800b產(chǎn)品詳細(xì)技術(shù)資料介紹,天瑞儀器edx1800b參數(shù)和性能配置請(qǐng)咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司銷售部提供rohs檢測(cè)儀EDX1800b產(chǎn)品報(bào)價(jià)和說(shuō)明。一鍵式設(shè)計(jì)的xrf測(cè)試儀器被廣泛應(yīng)用于rohs指令的有害物質(zhì)含量測(cè)試和分析,無(wú)需化學(xué)前處理的特性,適合工廠提供分析效率,簡(jiǎn)化測(cè)試手段。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
1.分析樣品無(wú)損、快速,針對(duì)未知樣品可以快速分析;
2.可采用小型的XRF設(shè)備進(jìn)行便攜測(cè)試。
3.在保證工作曲線完善和樣品前處理的情況下,其測(cè)試結(jié)果重復(fù)性好、準(zhǔn)確度高。
4.多元素可同時(shí)測(cè)試得出結(jié)果,一次可測(cè)試元素二十多個(gè)以上;
5.可用于生產(chǎn)中的過(guò)程內(nèi)部控制,測(cè)試可達(dá)到在線、速度快,快速反應(yīng)生產(chǎn)線等特點(diǎn)。

工作原理
X熒光光譜ROHS檢測(cè)儀工作原理是由激發(fā)源(X射線管)和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X 射線(一次射線),激勵(lì)被測(cè)樣品。樣品中的每一種元素會(huì)放射出的二次X射線,并且不同的元素所放出的二次射線具有特定的能量特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來(lái)的二次射線的能量及數(shù)量。然后,儀器軟件將控測(cè)系統(tǒng)所收集的信息轉(zhuǎn)換成樣品中的各種元素的種類及含量。利用X射線熒光原理,測(cè)試出待測(cè)產(chǎn)品的元素含量。

EDX1800B性能特點(diǎn)
下照式:可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求;
準(zhǔn)直器和濾光片:多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換,滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用;
平臺(tái):精細(xì)的手動(dòng)平臺(tái),方便定位測(cè)試點(diǎn);
高分辨率探測(cè)器:提高分析的準(zhǔn)確性;
新一代的高壓電源和X光管:性能穩(wěn)定可靠,高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率。

應(yīng)用領(lǐng)域
RoHS檢測(cè)分析
地礦與合金(銅、不銹鋼等)成分分析
金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測(cè)
主要用于RoHS指令相關(guān)行業(yè)、貴金屬加工和飾加工行業(yè);銀
行,飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)
下照式:可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求
準(zhǔn)直器和濾光片:多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換,滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用
平臺(tái):精細(xì)的手動(dòng)平臺(tái),方便定位測(cè)試點(diǎn)
高分辨率探測(cè)器:提高分析的準(zhǔn)確性
新一代的高壓電源和X光管:性能穩(wěn)定可靠,高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率
檢測(cè)75種元素·1ppm檢出限·重復(fù)性0.05%·穩(wěn)定性0.05%
新一代光管良好的屏蔽作用,X射線的水平與普通大氣環(huán)境狀態(tài)下相等
性能穩(wěn)定可靠,高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率
儀器上蓋的測(cè)試自鎖和高壓電源緊急鎖功能,帶給您防護(hù)
ROHS檢測(cè)儀相關(guān)基礎(chǔ)術(shù)語(yǔ)知識(shí)
1.精密度
定義為同一樣品多次測(cè)定的平均值m和各次測(cè)定值mi之差。換句話說(shuō),精密度是重現(xiàn)性(Reproducibility或Repeatability)。X熒光分析 的精度是和測(cè)量的時(shí)間有關(guān)的,測(cè)量的時(shí)間越長(zhǎng),則精度越高。
2.重復(fù)性
定義為儀器測(cè)同一款樣品的連續(xù)測(cè)試十一次或二十一次的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。
3.準(zhǔn)確度
定義為各次測(cè)定值mi對(duì)于真值(t)的偏差。因而,若精密度差,準(zhǔn)確度也一定差。反之,準(zhǔn)確度很差,精密度確有時(shí)很高。這是因?yàn)橛袝r(shí)可能有系統(tǒng)誤差的存在。要想可靠性(Reliability)好,精密度和準(zhǔn)確度都要求高。
4.誤差
X熒光分析的誤差往往是很難計(jì)算的,所以,通常情況下,把統(tǒng)計(jì)漲落引起的誤差作為測(cè)量的誤差。
5.檢出限(Limit of detection)
當(dāng)獲得背景強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)偏差三倍以上的峰值強(qiáng)度時(shí)的元素含量,稱為檢出限(或叫檢出限)。這時(shí)候,測(cè)到的含量的置信度(可信的程度)是99.87%.測(cè)定檢出,一般要用含量比較低的樣品來(lái)測(cè)量。檢出限因所用試樣(基體)的不同而不同。
6.計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差
在放射性物質(zhì)的測(cè)量中,假設(shè)儀器穩(wěn)定性、機(jī)械在現(xiàn)性可確保,由儀器機(jī)械產(chǎn)生的誤差可以忽略不計(jì),但計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差還是不能。X射線強(qiáng)度是把入射到計(jì)數(shù)器上的光子變成脈沖后計(jì)數(shù)而得到的。因而計(jì)數(shù)值在本質(zhì)上具有統(tǒng)計(jì)誤差。 被測(cè)X射線的計(jì)數(shù)值(N)的分布屬于隨機(jī)事件,其標(biāo)準(zhǔn)偏差由 N求出。 N叫統(tǒng)計(jì)誤差。時(shí)間越長(zhǎng),則相對(duì)偏差越小,即精度越高。
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