元素范圍從S到U
檢測(cè)限1ppm
分辨率160ev
重復(fù)性0.1
分析時(shí)間30s到200s
環(huán)境溫度15-30度
電源電壓220v
整機(jī)功率500w
天瑞儀器edx1800b產(chǎn)品詳細(xì)技術(shù)資料介紹,天瑞儀器edx1800b參數(shù)和性能配置請(qǐng)咨詢(xún)江蘇天瑞儀器股份有限公司銷(xiāo)售部提供rohs檢測(cè)儀EDX1800b產(chǎn)品報(bào)價(jià)和說(shuō)明。一鍵式設(shè)計(jì)的xrf測(cè)試儀器被廣泛應(yīng)用于rohs指令的有害物質(zhì)含量測(cè)試和分析,無(wú)需化學(xué)前處理的特性,適合工廠提供分析效率,簡(jiǎn)化測(cè)試手段。
熒光光譜儀是一種波長(zhǎng)較短的電磁,通常是指能t范圍在0.1^-100keV的光子。臺(tái)式x熒光光譜儀與物質(zhì)的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。X射線熒光光譜儀是由物質(zhì)中的組成元素產(chǎn)生的特征,通過(guò)側(cè)里和分析樣品產(chǎn)生的x射線熒光,即可獲知樣品中的元家組成,得到物質(zhì)成分的定性和定量信息。
特征臺(tái)式x熒光光譜儀的產(chǎn)生與特性當(dāng)用高能電子束照射樣品時(shí),人射高能電子被樣品中的電子減速,這種帶電拉子的負(fù)的加速度會(huì)產(chǎn)生寬帶的連續(xù)X射線譜,簡(jiǎn)稱(chēng)為連續(xù)潛或韌致。另一方面,化學(xué)元素受到高能光子或粒子的照射,如內(nèi)層電子被激發(fā),則當(dāng)外層電子躍遷時(shí),會(huì)放射出特征X射線。特征X射線是一種分離的不連續(xù)譜。如果激發(fā)光源為x射線,則受激產(chǎn)生的x射線稱(chēng)為二次X射線或X射線熒光。特征x射線顯示了特征x射線光譜儀產(chǎn)生的過(guò)程。

XRF的篩選X射線熒光光譜儀是公認(rèn)的RoHS篩選檢測(cè)儀器,由于其檢測(cè)速度快、分辨率高、實(shí)施無(wú)損檢測(cè),所以被廣泛采用。熒光光譜儀繁多,以至于分不出誰(shuí)好誰(shuí)差了。在《電子信息產(chǎn)品有毒有害物質(zhì)的檢測(cè)方法》IEC62321標(biāo)準(zhǔn)文本里提到:“用能量散射X射線熒光光譜法(ED-XRF)或波長(zhǎng)散射X射線熒光光譜法(WD-XRF)對(duì)試樣中目標(biāo)物進(jìn)行測(cè)試,可以是直接測(cè)量樣品(不破壞樣品),也可以是破壞樣品使其達(dá)到”均勻材料”(機(jī)械破壞試樣)后測(cè)試?!蹦苷嬲郎?zhǔn)確無(wú)誤地將試樣篩選出合格、不合格、不確定三種類(lèi)型,而且能限度地縮小“不確定”部分是好儀器。在保證既定準(zhǔn)確度的情況下盡可能快速檢測(cè)。尤其是企業(yè)選購(gòu),光譜儀是做日常RoHS監(jiān)督檢測(cè)用,非常看重這一點(diǎn)。所以,能夠準(zhǔn)確無(wú)誤地將試樣篩選出合格、不合格、不確定三種類(lèi)型,又能限度地縮小“不確定”部分,而且全部過(guò)程是在短的時(shí)間內(nèi)完成的X射線熒光光譜儀是滿(mǎn)足使用要求的光譜儀

x熒光光譜儀主要特點(diǎn)
1.檢測(cè)對(duì)象:液體/固體/粉末-固體樣品:點(diǎn)射配件-液體樣品:樣品池配件,適用于8mm瓶,NMR管和MP管
2.顯微鏡:可選顯微鏡配件
3.便攜式:-重量輕-遠(yuǎn)程控制-藍(lán)牙無(wú)線數(shù)據(jù)傳輸(或U)-電池可持續(xù)運(yùn)作5小時(shí)-數(shù)據(jù)庫(kù)可無(wú)限擴(kuò)充
4.全球小的高性能光譜
5.120mW激發(fā)光源,功率可變
6.熒光成像可選
7.達(dá)到限衍射的成像和光譜
8.數(shù)據(jù)庫(kù)可無(wú)限擴(kuò)展

完全滿(mǎn)足于黃銅成分分析以及其他金屬樣品的成分分析
應(yīng)用新一代的高壓電源和X光管,提供了產(chǎn)品的可靠性
利用新X光管提高儀器的測(cè)試效率,并優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高防護(hù)等級(jí)
不添加任何硬件設(shè)施既可升級(jí)分析功能,方便靈活的隨未來(lái)發(fā)展的分析需要增加分析元素及合金種類(lèi)
采用多參數(shù)的線性回歸方法,使元素間的吸收、排斥效應(yīng)得到明顯的降低
檢測(cè)時(shí)間短,可以大大提高工作效率
ROHS檢測(cè)儀相關(guān)基礎(chǔ)術(shù)語(yǔ)知識(shí)
1.精密度
定義為同一樣品多次測(cè)定的平均值m和各次測(cè)定值mi之差。換句話說(shuō),精密度是重現(xiàn)性(Reproducibility或Repeatability)。X熒光分析 的精度是和測(cè)量的時(shí)間有關(guān)的,測(cè)量的時(shí)間越長(zhǎng),則精度越高。
2.重復(fù)性
定義為儀器測(cè)同一款樣品的連續(xù)測(cè)試十一次或二十一次的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。
3.準(zhǔn)確度
定義為各次測(cè)定值mi對(duì)于真值(t)的偏差。因而,若精密度差,準(zhǔn)確度也一定差。反之,準(zhǔn)確度很差,精密度確有時(shí)很高。這是因?yàn)橛袝r(shí)可能有系統(tǒng)誤差的存在。要想可靠性(Reliability)好,精密度和準(zhǔn)確度都要求高。
4.誤差
X熒光分析的誤差往往是很難計(jì)算的,所以,通常情況下,把統(tǒng)計(jì)漲落引起的誤差作為測(cè)量的誤差。
5.檢出限(Limit of detection)
當(dāng)獲得背景強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)偏差三倍以上的峰值強(qiáng)度時(shí)的元素含量,稱(chēng)為檢出限(或叫檢出限)。這時(shí)候,測(cè)到的含量的置信度(可信的程度)是99.87%.測(cè)定檢出,一般要用含量比較低的樣品來(lái)測(cè)量。檢出限因所用試樣(基體)的不同而不同。
6.計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差
在放射性物質(zhì)的測(cè)量中,假設(shè)儀器穩(wěn)定性、機(jī)械在現(xiàn)性可確保,由儀器機(jī)械產(chǎn)生的誤差可以忽略不計(jì),但計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差還是不能。X射線強(qiáng)度是把入射到計(jì)數(shù)器上的光子變成脈沖后計(jì)數(shù)而得到的。因而計(jì)數(shù)值在本質(zhì)上具有統(tǒng)計(jì)誤差。 被測(cè)X射線的計(jì)數(shù)值(N)的分布屬于隨機(jī)事件,其標(biāo)準(zhǔn)偏差由 N求出。 N叫統(tǒng)計(jì)誤差。時(shí)間越長(zhǎng),則相對(duì)偏差越小,即精度越高。
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