差校正輕松到位 
多種測試模式設(shè)置及無限數(shù)目模式的自由添加，配合自動(dòng)測試模式匹配功能，實(shí)現(xiàn)一鍵式輕松測試。內(nèi)置強(qiáng)度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。 
軟件，操作簡易 
有害元素的應(yīng)用軟件，全新的軟件界面和內(nèi)核，將FP和EC軟件相結(jié)合，應(yīng)用面更廣大。靈敏度高、測試時(shí)間短、操作簡易等特點(diǎn)。 
數(shù)據(jù)傳輸更加高速 
采用嵌入式系統(tǒng)，高顯示分辨率(640×480)液晶顯示觸摸屏，結(jié)合數(shù)字多道技術(shù)，采用SPI數(shù)據(jù)傳輸，有效提升數(shù)據(jù)傳輸能力與數(shù)據(jù)運(yùn)算能力。 
防護(hù)、關(guān)愛健康 
多重安全防護(hù)功能，自動(dòng)感應(yīng)，具有無樣品空測，2秒自動(dòng)關(guān)X光管功能；工作時(shí)的水平遠(yuǎn)低于國際安全標(biāo)準(zhǔn)，無射線泄漏；加厚防護(hù)測試壁；配送測試防護(hù)安全罩。 
電量強(qiáng)勁、充電方便 
鋰電池電量容量7800mAh，可連續(xù)工作8小時(shí)，并配備了寬電壓的交流充電器或車載式充電器，保證隨時(shí)隨地進(jìn)行測試。 
警告指示，預(yù)防誤操作 
警告指示系統(tǒng)，通電時(shí)綠色指示燈亮，測試時(shí)指示燈閃爍，防止誤操作。 
多重防護(hù)，經(jīng)久耐用 
儀器自身具備防水防塵功能，并可以在高溫高濕環(huán)境下連續(xù)使用，其保護(hù)箱采用高強(qiáng)度用品，有良好的防潮防震防壓三防功能。
技術(shù)指標(biāo):

國產(chǎn)XRF環(huán)保測試分析儀閃耀的亮點(diǎn)在于輕便、小巧結(jié)實(shí)，一鍵式智能操作，一切讓金屬檢測如此簡單！XRF分析儀設(shè)計(jì)精巧、輕便，凈重不超過5kg，設(shè)備自帶把手，方便提攜；萬向測試支架，方便測試小部件樣品和混合金屬飾品等；內(nèi)置攝像頭，可為待測樣品提供準(zhǔn)確圖片，并保存到測試報(bào)告中；儀器配置Ф1mm、Ф2mm和Ф4mm三組準(zhǔn)直器組合，結(jié)合樣品腔，可應(yīng)對(duì)測試不同大小樣品的需要；FP法的完整使用，只需一鍵操作即可智能化自動(dòng)匹配曲線，操作一步到位。

儀器技術(shù)指標(biāo)：
1、分析元素范圍 ： 從硫（S）到鈾（U）
2、測試對(duì)象：固體、粉末、液體
3、元素含量分析范圍：1ppm—99.99% 
4、同時(shí)分析元素：幾十種元素同時(shí)分析
5、任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
6、相互的基體效應(yīng)校正模型
7、多變量非線性回歸程序
8、多次測量重復(fù)性可達(dá)：0.05％ (含量大于96%的樣品)
9、工作溫度:15℃—30℃  
10、工作濕度：≤70%  
11、工作電壓：220V AC
12、樣品腔尺寸：*100mm
13、儀器尺寸：212*258*258mm
14、儀器重量：5kg
15、建議測量時(shí)間 10-200S可以調(diào)

儀器配置：
1、探測模塊：Si-PIN
2、X射線源：40kV、100uA
3、準(zhǔn)直器：Ф1mm、Ф2mm和Ф4mm自動(dòng)切換
4、濾光片：內(nèi)置Al Ti Cu
5、樣品腔：下照式，
6、高清晰、高分辨率的5寸PDA，軟件安裝在Microsoft Windows CE系統(tǒng)操作靈活簡單，很好的支持PDA系統(tǒng)升級(jí)和軟件升級(jí)
7、指示和警告：電源指示燈，警告燈
8、保護(hù)系統(tǒng)：上蓋打開時(shí)，高壓自動(dòng)關(guān)閉
9、樣品放置：配萬向測試支架，隨心放置各種樣品
10、報(bào)告輸出：藍(lán)牙打印
11、安全防護(hù)箱：400*300*350mm，4.5kg

國產(chǎn)XRF分析儀應(yīng)用領(lǐng)域
主要應(yīng)用黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測
RoHS檢測分析
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測
主要用于RoHS指令相關(guān)行業(yè)、貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀
行，首飾銷售和檢測機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)

環(huán)保測試儀EDX4500H技術(shù)參數(shù):測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）,元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）,同時(shí)分析元素：一次性可測幾十種元素。測量時(shí)間：30秒-200秒；探測器能量分辨率為：145±5eV。管壓：5KV-50KV；管流：50μA-1000μA
測量對(duì)象狀態(tài)：粉末、固體、液體。輸入電壓：AC 110V/220V。環(huán)境溫度：15℃-30℃；環(huán)境濕度：35%-70%。樣品腔體積：320mm×100mm；外形尺寸：660mm×510mm×350mm。重量：65Kg。


超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到國際水平。新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測試更快，計(jì)數(shù)率達(dá)到0CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好。SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比。低能X射線激發(fā)待測元素，對(duì)Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測試的范圍。自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性。高信噪比的電子線路單元。針對(duì)不同樣品自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣。解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測元素的測試結(jié)果具有相等的分析精度。多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制。內(nèi)置高清晰攝像頭。液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然。


天瑞儀器公司是全球生產(chǎn)高性能X熒光光譜儀(XRF)的公司。2011年推出的高性能、臺(tái)式X熒光環(huán)保測試儀EDX4500H,融匯合金分析技術(shù)，配備智能真空系統(tǒng)，利用低能光管配合真空測試，可以有效的降低干擾，提高輕元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等輕元素的檢測效果。同時(shí)，也大大提高了ROHS指令中有害物質(zhì)的分析精度和檢測限，可以實(shí)現(xiàn)無有害物質(zhì)指令的測試要求。
EDX4500H還是可以用于鍍層行業(yè)的儀器，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測試，由軟件控制儀器的測試點(diǎn)。是功能強(qiáng)大的鍍層測厚儀器，配上為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。完全滿足金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定要求。


售后服務(wù)：天瑞儀器在全國設(shè)有二十幾個(gè)服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)，為客戶提供的質(zhì)保服務(wù)。保修期內(nèi)同提高維修，軟件免費(fèi)升級(jí)，維修相關(guān)費(fèi)用全免。保修期結(jié)束后，交通費(fèi)、住宿費(fèi)實(shí)報(bào)實(shí)銷,服務(wù)費(fèi)800元  / 天。技術(shù)服務(wù)的響應(yīng)期限短，在接到用戶故障信息后，4小時(shí)內(nèi)響應(yīng)；如有必要，12～72時(shí)內(nèi)派人維修和排除故障。

環(huán)保測試儀產(chǎn)品介紹
隨著歐盟ROHS環(huán)保指令的深入影響和環(huán)保發(fā)展趨勢越來越嚴(yán)格，X射線熒光環(huán)保測試儀在電子電器行業(yè)得到廣泛使用。天瑞儀器是生產(chǎn)環(huán)保測試儀的廠商，公司的EDX0B是利用新一代X光管和高分辨率探測器，提供激發(fā)效率和測試精度。

環(huán)保測試儀技術(shù)指標(biāo)：
分析檢出限可達(dá)1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99％
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率：160±5eV
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg

環(huán)保測試儀的工作原理
利用X射線熒光光譜儀，使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級(jí)次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=kE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；k為不同類型能量探測器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對(duì)獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。
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