天瑞儀器edx1800b產(chǎn)品詳細(xì)技術(shù)資料介紹，天瑞儀器edx1800b參數(shù)和性能配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司銷售部提供rohs檢測儀EDX1800b產(chǎn)品報價和說明。一鍵式設(shè)計的xrf測試儀器被廣泛應(yīng)用于rohs指令的有害物質(zhì)含量測試和分析，無需化學(xué)前處理的特性，適合工廠提供分析效率，簡化測試手段。
XRF的篩選X射線熒光光譜儀是公認(rèn)的RoHS篩選檢測儀器，由于其檢測速度快、分辨率高、實施無損檢測，所以被廣泛采用。熒光光譜儀繁多，以至于分不出誰好誰差了。在《電子信息產(chǎn)品有毒有害物質(zhì)的檢測方法》IEC62321標(biāo)準(zhǔn)文本里提到：“用能量散射X射線熒光光譜法（ED－XRF）或波長散射X射線熒光光譜法（WD－XRF）對試樣中目標(biāo)物進(jìn)行測試，可以是直接測量樣品（不破壞樣品），也可以是破壞樣品使其達(dá)到”均勻材料”（機(jī)械破壞試樣）后測試。”能真正準(zhǔn)確無誤地將試樣篩選出合格、不合格、不確定三種類型，而且能限度地縮小“不確定”部分是好儀器。在保證既定準(zhǔn)確度的情況下盡可能快速檢測。尤其是企業(yè)選購，光譜儀是做日常RoHS監(jiān)督檢測用，非?？粗剡@一點。所以，能夠準(zhǔn)確無誤地將試樣篩選出合格、不合格、不確定三種類型，又能限度地縮小“不確定”部分，而且全部過程是在短的時間內(nèi)完成的X射線熒光光譜儀是滿足使用要求的光譜儀

應(yīng)用領(lǐng)域
RoHS檢測分析
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測
主要用于RoHS指令相關(guān)行業(yè)、貴金屬加工和飾加工行業(yè)；銀
行，飾銷售和檢測機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)
下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應(yīng)用
平臺：精細(xì)的手動平臺，方便定位測試點
高分辨率探測器：提高分析的準(zhǔn)確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率實現(xiàn)更高的測試效率
檢測75種元素·1ppm檢出限·重復(fù)性0.05%·穩(wěn)定性0.05%
新一代光管良好的屏蔽作用，X射線的水平與普通大氣環(huán)境狀態(tài)下相等
性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率實現(xiàn)更高的測試效率
儀器上蓋的測試自鎖和高壓電源緊急鎖功能，帶給您防護(hù)

x熒光光譜儀xrf是天瑞儀器公司為合金測試開發(fā)的儀器類型。
具有測試精度高、測試速度快、測試簡單等特點。
同時具有合金測試、合得獎號分析、有害元素分析，土壤分析儀、貴金屬分析等功能。
檢測樣品包括從鈉至鈾的所有合金、金屬加工件、礦物、礦渣、巖石等，形態(tài)為固體、液體、粉末等。

探測器內(nèi)包含前置放大器與主放大器電路，一體 化設(shè)計保證儀器有好的穩(wěn)定性和可靠性分辨率底可達(dá)140eV（計數(shù)率1000/S左右時
新型的結(jié)構(gòu)設(shè)計，保證光管的散熱，提高光管的 使用壽命。高壓5-50KV電流達(dá)至iJ1mA （可根據(jù)客戶要求由軟件設(shè)置）
軟件介紹
支持Windows操作系統(tǒng)，中文版軟件（可安裝英文 軟件）件設(shè)置）
具有技術(shù)管理權(quán)限密碼功能，可以更好的保護(hù)測試數(shù) 據(jù)不被隨意更改
軟件具有定性分析，自動元素識別功能，方便對樣品 元素的識別和定性，并可以打印具有譜圖的定性分析 報告
可以由軟件自動控制切換準(zhǔn)直器和濾光片，減少因人 為更換錯誤準(zhǔn)直器，而造成測量的誤差
ROHS檢測儀相關(guān)基礎(chǔ)術(shù)語知識
1.精密度
定義為同一樣品多次測定的平均值m和各次測定值mi之差。換句話說，精密度是重現(xiàn)性（Reproducibility或Repeatability）。X熒光分析 的精度是和測量的時間有關(guān)的，測量的時間越長，則精度越高。
2.重復(fù)性
定義為儀器測同一款樣品的連續(xù)測試十一次或二十一次的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差。
3.準(zhǔn)確度
定義為各次測定值mi對于真值（t）的偏差。因而，若精密度差，準(zhǔn)確度也一定差。反之，準(zhǔn)確度很差，精密度確有時很高。這是因為有時可能有系統(tǒng)誤差的存在。要想可靠性（Reliability）好，精密度和準(zhǔn)確度都要求高。
4.誤差
X熒光分析的誤差往往是很難計算的，所以，通常情況下，把統(tǒng)計漲落引起的誤差作為測量的誤差。
5.檢出限（Limit of detection）
當(dāng)獲得背景強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)偏差三倍以上的峰值強(qiáng)度時的元素含量，稱為檢出限（或叫檢出限）。這時候，測到的含量的置信度（可信的程度）是99.87％.測定檢出，一般要用含量比較低的樣品來測量。檢出限因所用試樣（基體）的不同而不同。
6.計數(shù)統(tǒng)計誤差
在放射性物質(zhì)的測量中，假設(shè)儀器穩(wěn)定性、機(jī)械在現(xiàn)性可確保，由儀器機(jī)械產(chǎn)生的誤差可以忽略不計，但計數(shù)統(tǒng)計誤差還是不能。X射線強(qiáng)度是把入射到計數(shù)器上的光子變成脈沖后計數(shù)而得到的。因而計數(shù)值在本質(zhì)上具有統(tǒng)計誤差。 被測X射線的計數(shù)值（N）的分布屬于隨機(jī)事件，其標(biāo)準(zhǔn)偏差由 N求出。 N叫統(tǒng)計誤差。時間越長，則相對偏差越小，即精度越高。
http://www.mgm6607.com